在高溫區(qū)(2000℃)將碳化硅SiC粉末升華,將碳化硅SiC氣體沿著溫度梯度輸送,在較冷的尾部碳化硅SiC籽品凝聚為晶體。
目前國(guó)際主流大規(guī)模應(yīng)用的晶體生長(zhǎng)方法,具有技術(shù)方案成熟、生長(zhǎng)過(guò)程簡(jiǎn)單、設(shè)備成本低等特點(diǎn)。技術(shù)難點(diǎn)主要為大尺寸襯底制備、缺陷水平控制及良率提升。
加熱模式
SiC PVT長(zhǎng)晶爐有電感加熱和電阻加熱加熱兩種加熱模式。
測(cè)溫方式
溫度一般需要控制2400℃上下,由于生產(chǎn)過(guò)程不可見,為保證晶體生長(zhǎng)品質(zhì)需要精確調(diào)控生長(zhǎng)溫度,有上測(cè)溫、下測(cè)溫、或上下測(cè)溫等多種形式,高溫計(jì)通過(guò)石英窗口、保溫層通孔測(cè)試坩堝底部或頂部的溫度。
SiC長(zhǎng)晶工藝溫度監(jiān)測(cè)方案
由于設(shè)備結(jié)構(gòu)限制,推薦使用帶有視頻瞄準(zhǔn)的高溫計(jì);可以選用以下型號(hào):
推薦一:
IMPAC ISR 6 , 1000~3000℃ ,雙色,高溫,小光斑
推薦二:
IMPAC IGAR 6 Smart ,100~2550℃ ,雙色,寬量程,低高溫兼顧
推薦三:
IMPAC IGA 6 ,250~2550℃ ,單色,寬量程,低高溫兼顧